B. Bhushan — Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology
1.880 ₽
Автор: B. Bhushan
Название книги: Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology (2 Volumes)
Формат: PDF
Жанр: Химия
Страницы: 987+844
Качество: Изначально компьютерное, E-book
This book presents the physical and technical foundation of the state of the art in applied scanning probe techniques. It constitutes a timely and comprehensive overview of SPM applications. The chapters in this volume relate to scanning probe microscopy techniques, characterization of various materials and structures and typical industrial applications, including topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. The chapters are written by leading researchers and application scientists from all over the world and from various industries to provide a broader perspective.
Описание
B. Bhushan — Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology (2 Volumes) — фундаментальное двухтомное издание, посвященное сканирующей зондовой микроскопии и ее применению в нанонауке и нанотехнологиях. Книга подробно раскрывает принципы работы AFM, STM, SNOM и других зондовых методов, а также их использование для исследования и модификации поверхностей на наномасштабе.
Второе издание охватывает последние достижения в области приборостроения, метрологии, спектроскопии и биологических приложений. Особое внимание уделено практическим аспектам: от калибровки и интерпретации данных до промышленного применения в материаловедении, электронике и медицине.
- Исследователям и инженерам, работающим в области нанотехнологий и материаловедения
- Студентам и аспирантам профильных специальностей по нанонауке, физике и химии
- Специалистам лабораторий, использующих AFM, STM и другие зондовые микроскопы
- Всем, кто хочет глубоко понять современные методы изучения наноструктур
Только зарегистрированные клиенты, купившие данный товар, могут публиковать отзывы.
Отзывы
Отзывов пока нет.