C. Kumar — X-ray and Neutron Techniques for Nanomaterials Characterization

1.876 

Автор: C. Kumar
Название книги: X-ray and Neutron Techniques for Nanomaterials Characterization
Формат: PDF
Жанр: Нанотехнологии
Страницы: 835
Качество: Изначально компьютерное, E-book

Fifth volume of a 40 volume series on nanoscience and nanotechnology, edited by the renowned scientist Challa S.S.R. Kumar. This handbook gives a comprehensive overview about X-ray and Neutron Techniques for Nanomaterials Characterization. Modern applications and state-of-the-art techniques are covered and make this volume an essential reading for research scientists in academia and industry.
Contents
Synchrotron X-Ray Phase Nanotomography for Bone Tissue Characterization
3D Chemical Imaging of Nanoscale Biological, Environmental, and Synthetic Materials by Soft X-Ray STXM Spectrotomography
X-Ray Photon Correlation Spectroscopy for the Characterization of Soft and Hard Condensed Matter
XAFS for Characterization of Nanomaterials
The Characterization of Atomically Precise Nanoclusters Using X-Ray Absorption Spectroscopy
X-Ray Absorption Spectroscopic Characterization of Nanomaterial Catalysts in Electrochemistry and Fuel Cells
In Situ SXS and XAFS Measurements of Electrochemical Interface
Gas-Phase Near-Edge X-Ray Absorption Fine Structure (NEXAFS) Spectroscopy of Nanoparticles, Biopolymers, and Ionic Species
In Situ X-Ray Reciprocal Space Mapping for Characterization of Nanomaterials
X-Ray Powder Diffraction Characterization of Nanomaterials
X-Ray Absorption Fine Structure Analysis of Catalytic Nanomaterials
Contribution of Small-Angle X-Ray and Neutron Scattering (SAXS and SANS) to the Characterization of Natural Nanomaterials
Synchrotron Small-Angle X-Ray Scattering and Small-Angle Neutron Scattering Studies of Nanomaterials
Quasielastic Neutron Scattering: An Advanced Technique for Studying the Relaxation Processes in Condensed Matter

Описание

C. Kumar — X-ray and Neutron Techniques for Nanomaterials Characterization — фундаментальное руководство, которое подробно разбирает методы исследования наноматериалов с помощью рентгеновского излучения и нейтронов. Книга объясняет физические принципы взаимодействия излучения с нанообъектами и показывает, как эти техники применяются для определения структуры, морфологии, состава и свойств материалов на наноуровне.

Издание охватывает современные методы, включая XRD, SAXS, XAS, neutron diffraction, SANS и многие другие. Авторы разбирают особенности работы с наноматериалами, ограничения каждой техники и лучшие практики анализа данных, что особенно важно при работе с объектами размером от 1 до 100 нм.

  • Исследователям и инженерам в области нанотехнологий и материаловедения
  • Студентам и аспирантам профильных специальностей
  • Специалистам, использующим синхротронное и нейтронное излучение
  • Учёным, занимающимся разработкой и контролем качества наноматериалов

Отзывы

Отзывов пока нет.

Только зарегистрированные клиенты, купившие данный товар, могут публиковать отзывы.